系統(tǒng)功能
ADC/DAC芯片測試系統(tǒng)的核心測控功能基于統(tǒng)一的PXI平臺構(gòu)建，采用模塊化的軟硬件設(shè)計，可覆蓋芯片實驗室設(shè)計驗證（Design&Verification）階段、小批量實驗室樣片測試階段、量產(chǎn)測試階段等全周期自動化測試。
技術(shù)特點
1）廣泛應(yīng)用于高性能數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器（16-bit/24-bit AD/DA）、電源管理芯片（BMS AFE）、功率管理芯片（PMIC）、隔離放大器、MEMS、MCU等芯片測試。
2）針對模擬/混合信號芯片的實驗室設(shè)計驗證、小批量測試與量產(chǎn)測試提供一站式解決方案
3）基于工業(yè)標準的模塊化硬件設(shè)計，結(jié)合高效通用的測試軟件，可大幅提高并行測試效率，支持8-site并行測試，在實驗室測試與產(chǎn)線測試方面都具有強大的性能表現(xiàn)
4）強大的模擬與數(shù)字測試能力，高性能的SMU電源與聲音信號源，單機高達256通道的數(shù)字pattern儀器，測試功能可覆蓋主流模擬/混合信號芯片的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換精度與速率、功率轉(zhuǎn)化精度與時延、典型靜態(tài)與動態(tài)性能指標等參數(shù)
5）提供高精度、高穩(wěn)定性的LoadBoard和Dutboard，從容應(yīng)對高性能模擬芯片、SMU、動態(tài)信號源等精密儀器所帶來的嚴苛挑戰(zhàn)，為芯片自動化測試系統(tǒng)提供高質(zhì)量、可重復(fù)的信號測試鏈路
6）提供良好的開發(fā)環(huán)境，靈活的參數(shù)配置和高效的調(diào)試工具，實現(xiàn)測試程序快速開發(fā)和驗證。提供量產(chǎn)測試模式，快速對接工廠IT接口，實現(xiàn)產(chǎn)測部署
| 序號 | 測試項 | 技術(shù)指標 |
| 1 | ADC/DAC類型 | Sigma-Delta，SAR，F(xiàn)lash/Pipeline等 |
| 2 | ADC/DAC位數(shù) | 8-24 bit |
| 3 | 數(shù)字模式儀器 | 200Mbps至12.5Gbps，兼容低速串行Serial（I2C、SPI）、高速LVDS、高速串行Serdes（JESD204B，Aurora） |
| 4 | 模擬信號源 | 動態(tài)信號源：24 bit,204.8kS/s， THD+N<-110dB |
| 靜態(tài)信號源：accuracy 50uV | ||
| 5 | 模擬采集儀器 | 動態(tài)采集儀器：24 bit，204.8kS/s，動態(tài)范圍119dB |
| 靜態(tài)采集儀器：7位半萬用表 | ||
| 6 | 激勵電源模塊 | 電壓：-60V至+60V；電流：-3A至3A |
| 功率40W，帶源測功能 |
